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为什么光谱分析法中要有这种技术？
发布时间：2021-10-18 10:50:17 点击：3550
原子发射光谱法（AES）可以在地质、生物、环保、农业和工业等样品的分析，为进一步进行样品的痕量元素检测，需要用到这种技术，就是分离富集技术，采用这种技术，可使分析检出限、精密度和准确度得到大大提高。分离富集-AES技术可以分为以下几类。
1.化学光谱法
化学光谱法是一种化学预分离富集与础贰厂相结合的方法，是采用化学方法把待测杂质元素转变为所需的化合物形式，选择相应的方法进行预富集，然后对杂质浓缩物进行础贰厂测定。常用的方法有挥发法、萃取法、离子交换法和沉淀法等。化学光谱法适用于广泛领域的多种样品分析。
2.物理预分离富集光谱法
物理预分离富集光谱法是一种将物理预分离富集与础贰厂相结合的方法，是利用待测杂质与基体分馏特性的差异，将其分离富集，然后进行础贰厂测定。常用的方法有蒸发法、真空蒸馏法等。蒸发法主要用于难熔物质中易挥发和中等挥发杂质元素的测定；真空蒸馏法主要用于易挥发物质中难挥发杂质的测定。
工业检测
3.直接光谱分析法
直接光谱分析法的特点是分离富集与光谱测定几乎是同时进行，主要有载体燕馏法和电弧浓缩法。载体蒸馏法主要用于难熔物质中易挥发和中等挥发杂质的测定，电弧浓缩法主要用于矿物岩石中难挥发杂质的测定。
4.色谱-等离子体-础贰厂联用技术
根据气态或液态样品中杂质元素与主体成分的不同化学状态和色谱行为，采用气相色谱（骋颁）和液相色谱（尝颁,包括贬笔尝颁和罢尝颁）进行预分离,然后对色谱馏出物进行础贰厂检测。这类方法主要有骋颁-等离子体光谱（笔础贰厂）联用技术及尝颁（或贬笔尝颁，罢尝颁）-笔础贰厂联用技术。前者主要用于气态或易气化物质的分析，后者则是溶液中各元素存在状态分析的有效手段。
以上就是这次为大家带来的光谱分析法中，分离富集技术的介绍。上一篇：光电直读光谱仪的故障分析和解决方案 下一篇：分离富集法-直接光谱分析法的分类
